美國SEI RENGER EXP外置探頭射線檢測儀常用于：
1.檢查局部的輻射泄露和核輻射污染；
2.檢查周圍環境的氡輻射；
3.檢查石材等建筑材料的放射性；                                                                  
4.檢查有核輻射危險的填埋地和垃圾場；                                                                  
5.檢測從醫用到工業用的X射線儀器的X射線輻射強度；                                              
6.檢查地下水鐳污染；                                                                                    
7.檢查地下鉆管和設備的放射性；                                                                      
8.監視核反應堆周圍空氣和水質的污染；                                                              
9.檢查個人的貴重財產和珠寶的有害輻射；                                                            
10.檢查瓷器餐具玻璃杯等的放射性；                                                                
11.精確定位輻射源；                                                                                  
12.家居裝飾的檢測。                                                                                    

美國SEI RENGER EXP外置探頭射線檢測儀技術性能與特點：

1、四位液晶顯示
2、檢測α、β、γ和X射線
3、計數測量、總計數測量和劑量率測量
4、1分-24小時定時測量
5、響應能量：20Kev（γ射線），對Cs-137源為5.8Cps/μSv/h;
探測下限：對I-125是0.02微居;
6、效率（4π）：接觸下：對Sr-90源約38%，C-14源約5.3%；P32源約33%；Co-60源約3%
7、外接G-M計數管探頭,有效直徑45mm,云母窗密度1.5-2.0mg/Cm3;
8、精度μSv/h：≤500μSv/h；范圍時≤15%，在500-1000μSv/h范圍≤20%；
CPS：≤2500 CPS范圍時≤15%， 在2500-5000CPS范圍≤20%；
9、測量單位：該檢測儀常用單位（Mr/h或CPM）或SI單位（μSv/h或CPS）

測量范圍：0.001-100mR/h
          0.01-1000μSv/h
          0-300000 CPM
          0-9999000總計數
精度：±15%
電源：9V層疊電池
外形尺寸：145×72×38mm
產地：美國